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MiniTest 7400測(cè)厚儀精密支架 探頭技術(shù)參數(shù)： 1.多點(diǎn)校準(zhǔn),在實(shí)驗(yàn)室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn) 2.零點(diǎn)校準(zhǔn)，并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近 3.使用精密支架，不適用HD探頭

德國(guó)elektrophysik 涂層測(cè)厚儀MIKROTEST性能 EPK在不斷開發(fā)和創(chuàng)新科技產(chǎn)品過程中，贏得了良好的聲譽(yù)。作為無損檢測(cè)厚度行業(yè)的*，EPK與國(guó)內(nèi)的研究所和大學(xué)合作，實(shí)現(xiàn)了涂層厚度測(cè)量的成功發(fā)展和標(biāo)準(zhǔn)化。將來，EPK將全力發(fā)展自己的產(chǎn)品以符合Z高技術(shù)要求。

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